冷热冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具.

GB/T2423.1低温试验方法； GB/T2423.2高温试验方法；

GB/T2423.22温度变化试验； GJB150.5温度冲击试验；

GJB360.7-87温度冲击试验； GJB367.2-87 405温度冲击试验。

SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱 SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱

IEC68-2-14_试验方法N_温度变化 GB/T2424.13-2002试验方法温度变化试验导则

GB/T2423.22-2002温度变化 QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则

EIA364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估