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半导体材料冷热冲击试验箱

半导体材料冷热冲击试验箱

更新时间:2021-03-02

访问量:361

厂商性质:生产厂家

生产地址:北京或南昌

简要描述:
半导体材料冷热冲击试验箱用于测试各种材料对高低温的反复抵拉力,从而试验出产品于热胀冷缩所产生的化学反应或物理伤害,可确认产品的品质。
品牌普桑达/Poosanda适用领域冶金
产地国产加工定制

半导体材料冷热冲击试验箱产品简介:温度冲击试验箱广泛应用于电子、汽车配件、塑料等行业,测试各种材料对该低温的反复抵拉力,实验出产品于热胀冷缩所产生的的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的认同。

内箱材质采用SUS304不锈钢板,外箱材质采用SEEC钢板外加静电喷涂或不锈钢拉丝板,增加外观质感及洁净度,造型美观大方。

箱体保温层采用高强度PU及保温棉,达到优良的保温效果。

试验箱配置Ø50mm,测试孔,配发泡硅胶塞密封,可外接测试电源线或信号线使用。

机器底部采用高品质可固定式PU活动轮,附水平脚。

原装进口温湿度控制器,具有操作简单,易学,控制精度高,独有PID模式,可节能10%以上。

可以独立设定高温、低温、冷热冲击三种不同条件,具备高低温试验机的功能。

可设定循环次数及除霜次数自动(手动)除霜.出风口于回风口感知器检测控制,风门机构切换时间为10秒内完成。

具备全自动,高精密系统回路、任一机件动作,完全有P.L.C锁定处理,全部采用P.I.D自动演算控制。

温度恢复时间为5分钟内完成。

运转中发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障原因,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。

选配USB接口存储方便,到有标准的RS-232或RS-485计算机通讯接口。实现远程控制。

型号

                                  BY-260D

63

100

120

225

500

1000

测试区尺寸

W

40

50

60

50

80

100

D

35

40

50

60

80

100

H

35

40

50

75

80

100

外箱尺寸(约)

W

150

160

170

180

260

280

D

145

150

160

180

190

200

H

190

200

200

200

200

220

高温储热范围:+60℃·+200℃

低温储冷范围:-10℃~-55℃(A型) , -10℃~-65 ℃(B型) ,-10℃~-75℃(C型)

试验范围:

高温:+60℃~+150℃

低温:-10℃~-40℃(A型);-10℃~-55℃(B型);-10~-60℃(C型)

升温时间:+60℃~+200℃约需25min

降温时间:+20℃~-55℃小于60min;+20℃~-65℃小于75min;+20℃~-75℃小于90min;

风门切换时间:小于或等于10S

温度恢复时间:5min

温度波动:±0.5℃

温度偏差:±2℃

半导体材料冷热冲击试验箱温度控制系统:

1、制冷机:原装进口压缩机组(德国谷轮、比泽尔半封闭压缩机)

2、制冷机:R404a/R23

3、风机:轴流风机

4、加热器:不锈钢电加热器

5、蒸发器:鳍片式

6、制冷方式:风冷或水冷

保护装置:超温保护、漏电保护、缺水保护(水冷式)、压缩机超压过载过电流保护等。

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